достоинство – химическая специализация метода. Если
изучаемый
элемент
сконцентрирован,
то
EXAFS-
спектроскопия способна идентифицировать минерал-носитель
или
определить
локальную
структуру
слабоокристаллизованных частиц. Если же элемент рассеян, то
EXAFS-спектроскопия различает механизм его распределения
в матрице носителя в молекулярном масштабе (Brown et al.,
1999).
Идентификация минералов-носителей.
Рентгеновская
дифракция, безусловно, наиболее адекватный метод для
идентификации минералов. Но если у фазы-носителя имеются
обширные кристаллические дефекты (замещения, вакансии,
смещения пакетов), то размер когерентно рассеивающих
доменов может уменьшиться до десятков ангстрем, что
затрудняет использование дифракции.
Несмотря на слабую окристаллизованность частиц,
например ферригидрита, в них металлсодержащие полиэдры
(обычно октаэдры) все же контактируют вполне идентичным
для данного типа структуры образом – гранями, ребрами или
вершинами, что позволяет определить расстояние металл–
металл (Ме–Ме). Это резко противоречит стеклам, в которых
углы между полиэдрами варьируют вплоть до нескольких
десятков градусов, что приводит к неопределенности
расстояний Ме–Ме. Например, в кварце тетраэдры SiO
4
формируют трехмерную сетку со средним углом связи Si–O–
Si в 144º. Но в противоположность кристаллу, в стеклофазе
угол связи варьирует в широком интервале от 120 до 180º.
Данное различие между истинно аморфным состоянием и
дальним порядком структуры очень важно. Даже в
слабоупорядоченных
природных
частицах
EXAFS-
спектроскопия выявляет характер сферы у данного металла, из
чего можно вывести локальную структуру атома.
На рис. 6 сравниваются картины порошковой
рентгендифрактометрии
и
EXAFS-спектры
окристаллизованного оксида германия αGeO
2
(со структурой
Электронная книга СКБ ГНУ Россельхзакадемии
