NED365187NED

23 дельным пересчетом. Вместе с тем данные, регистрируемые авиационным ги- перспектрометром на участках от 400 до 450 нм и от 930 до 1000 нм, совершен- но не соответствуют действительности, и их использование даже при примене- нии коррекции весьма проблематично. Сравнение результатов пересчета с измеренными величинами дает воз- можность контролировать качество калибровки аппаратуры первого уровня. В итоге очевидно, что описываемый процесс позволяет полностью решать задачу радиометрической калибровки гиперспектрального прибора в полевых услови- ях. Контроль качества положения спектральных линий и спектрального раз- решения аппаратуры осуществляется на основе специальной тестовой съемки области вблизи солнечного диска. По результатам подстройки атмосферной модели MODTRAN, соответствующей условиям наблюдения, с помощью спе- циально разработанного математического обеспечения с точностью до единицы нанометра вычисляются положения спектральных линий прибора и значения спектрального разрешения вдоль диапазона спектральной чувствительности гиперспектрометра [4]. На рисунке 5 представлен образ результата наземной съемки солнечного диска авиационным прибором на средней спектральной ли- нии. По центральной части образа рассчитывается усредненная спектральная характеристика СПЭЯ. Одновременно с применением атмосферной модели MODTRAN для соответствующих условий наблюдения рассчитывается мо- дельное значение того же сигнала. Указанные величины по некоторым причи- нам полностью не совпадают, в силу чего для сравнения они приводятся к от- носительным значениям. Нормированные данные СПЭЯ для гиперспектраль- ной съемки (ГСС) и его модель применительно к спектральному разрешению 0,5 нм приведены на рисунке 6. Рисунок 5 Рисунок 6 Аналогичное сравнение измеренных и модельных данных, которые рас- считываются для последовательного ряда разрешений, позволяют оценить скользящее по шкале чувствительности спектральное разрешение прибора ГСС. В качестве примера на рисунке 7 приведены кривые в окрестности длины волны 700 нм, полученные при помощи прибора ГСС, а также модельные спек- тральные характеристики для разрешения в 1, 2 и 3 нм. Расчет коэффициента корреляции между кривыми позволяет определить модельное спектральное разрешение, ближайшее к приборному.